微細な電極構造上に分散させた液晶滴の回転および輸送挙動から、デバイス内部の電気特性を可視化できる技術を開発。両立する高い空間分解能と検出精度でデバイス内部の電気特性をリアルタイムで観測でき、不均一な電気特性を目視できる。欠陥や劣化の特定が可能で、マイクロマシンの性能向上、コスト削減、寿命延長に期待される。
微細な電極構造上に分散させた液晶滴の回転および輸送挙動から、デバイス内部の電気特性を可視化できる技術を開発。両立する高い空間分解能と検出精度でデバイス内部の電気特性をリアルタイムで観測でき、不均一な電気特性を目視できる。欠陥や劣化の特定が可能で、マイクロマシンの性能向上、コスト削減、寿命延長に期待される。